Назначение и область применения

   Лаборатория физико-химических методов исследования БГТУ применяет следующие виды электронной микроскопии при проведении исследований:

- Сканирующая электронная микроскопия с энергодисперсионным химическим анализом
- Сканирующая электронная микроскопия с волнодисперсионным химическим анализом
- Просвечивающая электронная микроскопия и электронная дифракция

Сканирующая электронная микроскопия с энергодисперсионным химическим анализом

Направления исследований:
-изучение микроструктуры самого широкого круга материалов: металлы, сплавы, керамика, полупроводниковые материалы, полимеры, синтетическая продукция;
-исследование непроводящих и биологических объектов в режиме низкого вакуума без нанесения проводящих покрытий;
-качественный и количественный энергодисперсионный химический микроанализ исследуемых объектов;
-получение карт и профилей распределения химического состава в анализируемых объектах

Оборудование:  
Сканирующий электронный микроскоп JSM-5610 LV оснащен системой химического микроанализа EDX JED-2201 (JEOL, Japan), позволяющей производить одновременный автоматический качественный и количественный химический анализ до 99 интересующих участков изображения исследуемого объекта.

Технические характеристики (JSM-5610 LV)

Сканирующая электронная микроскопия с энергодисперсионным химическим анализом 

Направления исследований:
-изучение микроструктуры различных материалов: металлы, сплавы, стекло, керамика, полупроводниковые материалы;
-анализ механического износа и разрушений материалов;
-качественный и количественный химический анализ с использованием рентгеновского волнодисперсионного спектрального анализа;
-получение карт и профилей распределения элементов в материалах.

Просвечивающая электронная микроскопия и электронная дифракция

Направления исследований:
-изучение микроструктуры тонкопленочных материалов "на просвет" в режиме высокого разрешения;
-исследование структуры поверхности материалов с использованием реплик, снятых с поверхности объемных материалов;
-изучение кристаллической структуры методом электронной дифракции с получением круговых и точечных электронограмм;